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VDI/VDE 2655 Blatt 1.3 [AKTUELL]

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Dokumentart:
Technische Regel
Ausgabedatum:
2020-02
Titel (deutsch):
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung
Titel (englisch):
Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement
Preis:
Download  127,30 EUR Versand  141,60 EUR
Originalsprachen: Deutsch , Englisch
Varianten Download Versand
Sprache : Deutsch , Englisch

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