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VDI/VDE 2655 Blatt 1.1 [AKTUELL]

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Dokumentart:
Technische Regel
Ausgabedatum:
2024-01
Titel (deutsch):
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von Interferenzmikroskopen und Tiefeneinstellnormalen für die Rauheitsmessung
Titel (englisch):
Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch , Englisch
Varianten Download Versand
Sprache : Deutsch , Englisch

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