Dokumentart:
Technische Regel
Ausgabedatum:
2015-03
Titel (deutsch):
Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)
Titel (englisch):
Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM)
Preis:
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68,10 EUR
Versand
82,40 EUR
Originalsprachen:
Deutsch
