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DIN EN IEC 60749-5; VDE 0884-749-5:2024-09 [NEU]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2024-09
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2023); Deutsche Fassung EN IEC 60749-5:2024
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2023); German version EN IEC 60749-5:2024
Preis:
Versand  41,72 EUR
Originalsprachen: Deutsch
Varianten Versand
Sprache : Deutsch

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