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DIN EN IEC 60749-41 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2023-03
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen (IEC 60749-41:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60749-41:2020
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (IEC 60749-41:2020); German version EN IEC 60749-41:2020
Preis:
Download  112,30 EUR Versand  135,80 EUR
Originalsprachen: Deutsch
Varianten Download Versand
Sprache : Deutsch

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