DIN EN IEC 60749-28; VDE 0884-749-28:2024-12 [VORAB BEREITGESTELLT]
Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2024-12
Beabsichtigter Ersatz:
zum 2024-12 für:
DIN EN IEC 60749-28
:2024-05
,
DIN EN 60749-28
:2018-02
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 60749-28:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-28:2022
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2022); German version EN IEC 60749-28:2022
Preis:
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100,60 EUR
Originalsprachen:
Deutsch
