DIN EN 62496-2 [AKTUELL]
Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2018-10
Titel (deutsch):
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten (IEC 62496-2:2017); Deutsche Fassung EN 62496-2:2017
Titel (englisch):
Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards (IEC 62496-2:2017); German version EN 62496-2:2017
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Originalsprachen:
Deutsch