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DIN EN 62374 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2008-02
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
Varianten Download Versand
Sprache : Deutsch

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