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DIN EN 62374-1 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2011-06
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen (IEC 62374-1:2010); Deutsche Fassung EN 62374-1:2010 + AC:2011
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010); German version EN 62374-1:2010 + AC:2011
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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