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DIN EN 62373 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2007-01
Titel (deutsch):
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006
Titel (englisch):
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006
Preis:
Download  70,50 EUR Versand  85,50 EUR
Originalsprachen: Deutsch
Varianten Download Versand
Sprache : Deutsch

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