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DIN EN 62047-8 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2011-12
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 8: Streifen-Biege-Prüfverfahren zur Messung von Zugbeanspruchungsmerkmalen dünner Schichten (IEC 62047-8:2011); Deutsche Fassung EN 62047-8:2011
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011); German version EN 62047-8:2011
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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