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DIN EN 62047-2 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2007-02
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen (IEC 62047-2:2006); Deutsche Fassung EN 62047-2:2006
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials (IEC 62047-2:2006); German version EN 62047-2:2006
Preis:
Download  63,80 EUR Versand  77,00 EUR
Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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Norm

DIN EN 62047-6 : 2010-07

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