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DIN EN 62047-14 [AKTUELL]

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Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2012-10
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 14: Verfahren zur Ermittlung der Grenzformänderung metallischer Dünnschichtwerkstoffe (IEC 62047-14:2012); Deutsche Fassung EN 62047-14:2012
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (IEC 62047-14:2012); German version EN 62047-14:2012
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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