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DIN EN 60749-9 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2017-11
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung (IEC 60749-9:2017); Deutsche Fassung EN 60749-9:2017
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2017); German version EN 60749-9:2017
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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