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DIN EN 60749-44 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2017-04
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen (IEC 60749-44:2016); Deutsche Fassung EN 60749-44:2016
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (IEC 60749-44:2016); German version EN 60749-44:2016
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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