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DIN EN 60749-38 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2008-10
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Prüfverfahren für Halbleiterbauelemente mit Speicher (IEC 60749-38:2008); Deutsche Fassung EN 60749-38:2008
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008); German version EN 60749-38:2008
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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