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DIN EN 60749-35 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2007-03
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik (IEC 60749-35:2006); Deutsche Fassung EN 60749-35:2006
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006); German version EN 60749-35:2006
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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