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DIN EN 60749-3 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2018-01
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung (IEC 60749-3:2017); Deutsche Fassung EN 60749-3:2017
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2017); German version EN 60749-3:2017
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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