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DIN EN 60749-29 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2012-01
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2011); Deutsche Fassung EN 60749-29:2011
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011); German version EN 60749-29:2011
Preis:
Download  112,30 EUR Versand  135,80 EUR
Originalsprachen: Deutsch
Varianten Download Versand
Sprache : Deutsch

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