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DIN EN 60749-23 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2011-07
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004 + A1:2011
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); German version EN 60749-23:2004 + A1:2011
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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