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DIN EN 60749-2 [AKTUELL]

Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2003-04
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck (IEC 60749-2:2002); Deutsche Fassung EN 60749-2:2002
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002); German version EN 60749-2:2002
Preis:
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Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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Norm

DIN EN 60749-11 : 2003-04

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Rascher Temperaturwechsel; Zweibäderverfahren (IEC 60749-11:2002); Deutsche Fassung EN 60749-11:2002
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Norm

DIN EN 60749-36 : 2003-12

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DIN EN 60749-25 : 2004-04

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DIN EN 60749-8 : 2003-12

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DIN EN 60749-1 : 2003-12

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DIN EN 60749-14 : 2004-07

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