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DIN 50453-2 [AKTUELL]

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Dokumentart:
Norm
Ausgabedatum:
2023-08
Titel (deutsch):
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzrate von Ätzmischungen - Teil 2: Siliciumdioxid-Schichten, Optisches Verfahren
Titel (englisch):
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 2: Silicon-dioxide coating, optical method
Preis:
Download  49,20 EUR Versand  59,40 EUR
Originalsprachen: Deutsch
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Sprache : Deutsch

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