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DIN EN IEC 60749-28; VDE 0884-749-28:2024-05

Dokumentart:
Entwurf
Ausgabedatum:
2024-05
Erscheinungsdatum
2024-04-26
Einspruchsfrist:
2024-06-26
Beabsichtigte Zurückziehung:
mit Ersatz zum 2024-12 durch: DIN EN IEC 60749-28 :2024-12
Wird ersetzt durch:
DIN EN IEC 60749-28 :2024-12
Titel (deutsch):
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 60749-28:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-28:2022
Titel (englisch):
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (IEC 60749-28:2022); German version EN IEC 60749-28:2022
Preis:
Versand  44,97 EUR
Originalsprachen: Deutsch
Varianten Versand
Sprache : Deutsch

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Entwurf

DIN EN IEC 60749-28 : 2024-05 ; VDE 0884-749-28:2024-05

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 60749-28:2022); Deutsche Fassung EN IEC 60749-28:2022
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Norm

DIN EN IEC 60749-28 : 2024-12 ; VDE 0884-749-28:2024-12

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Norm

DIN EN 60749-28 : 2018-02 ; VDE 0884-749-28:2018-02

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level (IEC 60749-28:2017); Deutsche Fassung EN 60749-28:2017
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Norm

DIN EN IEC 60749-26 : 2018-10 ; VDE 0884-749-26

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Norm

DIN EN 60749-27 : 2013-04

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Norm

DIN EN 60749-9 : 2017-11

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